Microscopia Eletrônica-MEV

O Centro de Pesquisas possui, dentre os mais de 120 laboratórios distribuídos pelo campus, a área de Microscopia Eletrônica, é capacitado para realização análises em metais, polímeros, compósitos e matéria orgânica.

O MEV  possui os seguintes sensores:

• SE- O detector SE é um detector padrão básico para imagens topográficas (detecta elétrons secundários). Utiliza alto vácuo para realizar a varredura.

• LE BSE- O detector LE BSE é um detector de elétrons retroespalhado, para detecção da diferença do número atômico dos elementos químicos em função do contraste na amostra analisada. Utiliza alto ou baixo vácuo para realizar a varredura.

• GSD- Este é um detector de elétrons secundários, especialmente projetado para o modo de vácuo baixo. É adequado para a investigação de amostras não condutoras sem necessidade de revestimento de superfície condutiva. O baixo vácuo também pode ser necessário para não colapsar amostras biológicas com a pressão da câmara.

• EDS- O detector TESCAN EDS (Energy-Dispersive X-ray Spectrometry) é uma ferramenta micro analítica usada para separar os raios-x característicos de diferentes elementos em um espectro de energia. Ou seja, este sensor realiza a análise de composição química semiquantitativa. O elemento químico será identificado, mas não pode ser considerada uma análise quantitativa conclusiva no quesito proporção do elemento.

ESPECIFICAÇÕES TÉCNICAS

Resolução :
Modo alto vácuo (SE) = 3.0 nm em 30 kV e 8.0 nm em 3 kV
Modo baixo vácuo (BSE, LVSTD) = 3.5 nm em 30 kV

Pressão de vácuo:
Modo alto vácuo = < 9 x 10-3 Pa
Modo Single Vac = 30 ±10 Pa
UniVac = 7 a 500 Pa
Tempo de bombeamento após a troca do espécime: tipicamente < 3 minutos

Ampliação:
Contínua de 2X até 1.000.000X

Máximo campo de visualização:
7.7mm com WD de 10mm
Maior que 50mm com máximo

Tensão de aceleração:
200V ~ 30kV

Canhão de elétrons:
Catodo aquecido de tungstênio

Corrente na amostra:
1 pA ~ 2µA

Velocidade de varredura:
20 ns a 10 ms por pixel, ajustável em passos ou continuamente

Janela de foco:
Forma, tamanho e posição continuamente ajustáveis

Destaques de varredura:
Foco dinâmico, varredura ponto & linha, correção de inclinação, deslocamento e rotação, correção de deslocamento no modo de varreduras (DCFA)

Tamanho de imagem:
Até 16.384 x 16.384 pixels Proporção de tela de 4:3 e 2:1

Formatos de imagem:
BMP, TIFF, JPEG, GIF, PNG

Profundidade da Imagem:
Até 8 ou 16 bits por canal

Aquisição de imagens:
Até 8 canais podem ser adquiridos simultaneamente

Controle remoto:
Via TCP/IP

Processamento de dados:
Computador: Intel® Core i3-9100F Quad Core 3.60GHz, 2 X 4GB RAM Hyper Fury, SSD 500 GB, nVIDIA GT1030 2GB GDDR5, Windows 10 Pro 64-bit, Monitor QHD 32"

Formas de solicitação e agendamento

Para alunos e profissionais do IMT

O agendamento do MEV deverá ser realizado por este ( https://form.jotform.com/220545584620050 ) formulário: Após preenchimento, aguarde a confirmação por e-mail da disponibilidade do técnico.

Para clientes e usuários externos

Para orçamento e agendamento, a solicitação deve ser feita enviando um e-mail para e mev@maua.br . No e-mail deverá conter uma descrição da amostra, forma que se encontra, qual é o tipo de material, o objetivo da análise e, em caso de análise de falhas, um breve histórico do ocorrido. Após a solicitação pelo e-mail, será enviada uma proposta comercial com a quantidade de horas de MEV estimas para realizar a análise e o preço final para realizar o trabalho. Após o aceite da proposta, o formulário de agendamento poderá ser preenchido.